Transmissionselektronenmikroskopie

Wir bieten hochpräzise Einblicke in die Struktur und Chemie von Festkörpern bis hinab auf die atomare Ebene. Durch den Einsatz modernster Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und komplementärer analytischer Methoden unterstützen wir bei der Aufklärung komplexer materialwissenschaftlicher Fragestellungen – von der Grundlagenforschung bis zur industriellen Schadensanalyse.

Unsere Kernkompetenzen:

• Transmissionselektronenmikroskopie (TEM): Morphologische und strukturelle Charakterisierung von Nanomaterialien, Dünnschichten und Grenzflächen durch die Durchstrahlung ultradünner Proben.

• Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM): Untersuchung mittels eines atomar fokussierten, rasternden Elektronenstrahls. Ermöglicht hochauflösende Z-Kontrast-Abbildungen (HAADF) zur direkten Visualisierung von chemischen Unterschieden und Materialgrenzflächen.

• High-Resolution TEM (HRTEM): Direkte Abbildung von Kristallgittern und atomaren Defekten (wie Versetzungen oder Korngrenzen) mit höchster räumlicher Auflösung für ein tiefes Verständnis der Mikrostruktur.

• Elektronenbeugung (Diffraction / SAED): Präzise Bestimmung kristallographischer Eigenschaften, Gitterparameter und lokaler Kristallorientierungen in nanometergroßen Bereichen.

• Nanoskalige Phasenanalyse: Eindeutige Identifikation und Verteilungskartierung kristalliner Phasen durch die synergetische Auswertung von Beugungsbildern, HRTEM-Daten und chemischer Zusammensetzung.

• Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS / EDX): Qualitative und quantitative Elementanalyse auf der Nanoskala. Erstellung hochauflösender chemischer Mappings (Elemental Mapping) zur Visualisierung von Segregationen, Dotierungen und Verunreinigungen.

Anwendungsgebiete & Mehrwert: Unsere Expertise ist der Schlüssel zur Optimierung von Halbleiterbauelementen, Hochleistungslegierungen, Batteriematerialien und Katalysatoren. Wir machen das Unsichtbare sichtbar und liefern die Datengrundlage für Ihr nächstes technologisches Breakthrough.