Pomiary grubości powłok

Badanie grubości powłok galwanicznych wykonujemy na spektrometrze FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD. Urządzenie jest wyposażone w zmotoryzowany stolik pomiarowy, który umożliwia realizację dużej liczby pomiarów w krótkim czasie.

Spektrometr pozwala na pomiary grubości powłok galwanicznych od kilku nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów. Umożliwia również jednoczesny pomiar kilku powłok w układach wielowarstwowych oraz badanie składu chemicznego powłok stopowych.

Oferujemy profesjonalne usługi pomiaru grubości powłok na podłożach metalowych, realizowane za pomocą zaawansowanych mierników ręcznych serii DMP firmy Fischer. Nasze rozwiązania pozwalają na precyzyjną, nieniszczącą kontrolę warstw ochronnych i dekoracyjnych bezpośrednio na gotowych detalach, konstrukcjach oraz elementach o skomplikowanych kształtach.

Badanie grubości powłok miernikami przenośnymi wykonujemy zarówno na miejscu, jak i w formule dojazdu do klienta. Nasze zaplecze sprzętowe umożliwia pomiary powłok jednowarstwowych oraz dwuwarstwowych (Farba/Cynk/Stal). Dysponujemy także szeregiem sond do zastosowań specjalnych, które pozwalają na wykonywanie pomiarów w miejscach trudnodostępnych.

Dzięki zastosowaniu metody optycznej–fototermicznej możliwe jest badanie powłok na tworzywach sztucznych i gumie, a także powłok klejowych oraz w stanie mokrym. Jest to optymalna metoda pomiarowa w sytuacjach, gdy nie ma możliwości wykorzystania przyrządów stykowych.

Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej (XRF) wykorzystywana jest do badania grubości powłok, w szczególności jedno- i wielowarstwowych oraz bardzo cienkich. Metoda umożliwia określanie grubości powłok nanoszonych zarówno na materiały ferromagnetyczne, jak i nieferromagnetyczne.